A Cornell University kutatói 2018-ban alkották meg az úgynevezett EMPAD (electron microscope pixel array detector) mikroszkópot, amelynek köszönhetően rekord részletességgel lehetett vizsgálni az atomokat.
A mérnökök azóta fejlesztik a technológiát, és nemrégiben sikerült még nagyobb felbontású felvételeket készíteni a gépnek köszönhetően.
A mérnökök a ptychography technológiát alkalmazva háromszoros teljesítménnyel tudják működtetni a speciális mikroszkópot, így az még jobb minőségű, magasabb felbontású felvételeket képes készíteni az atomokról. Alább látható a kapcsolódó tudományos publikációban közzétett fénykép.
A szakértői csapatot vezető David Mueller elmondta, hogy az új technológiával nemcsak rekordot döntöttek a részletességet illetően, de a megoldás jelentős előrehaladást jelenthet a kapcsolódó kutatásokban.
